试验设计与可靠性优化
试验设计与可靠性优化(CDM试验对电子器件可靠性的影响)

试验设计与可靠性优化(CDM试验对电子器件可靠性的影响)

在电子器件制造和应用中,静电放电(ESD)是一个重要的可靠性问题。CDM(带电器件模型)试验是评估电子器件在静电放电环境下的敏感度和可靠性的重要手段。检测服务涵盖静电放电(ESD)测试、可靠性测试、失效分析以及AEC...

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