码盘优化(宇树科技激光雷达测控专利公布)

码盘优化(宇树科技激光雷达测控专利公布)

adminqwq 2026-02-26 社会资讯 13 次浏览 0个评论

企查查APP显示,近日,杭州宇树科技股份有限公司申请的“一种三维激光雷达点云采集控制方法和系统”专利公布。企查查专利摘要显示,本发明属于激光雷达测控技术领域。现有低成本的激光雷达点云采集方法,角度累积误差较大,无法满足高转速工况下的实时角度追踪需求。本发明的一种三维激光雷达点云采集控制方法,通过创建码盘设计优化模型、突变信号捕捉模型,在三维激光雷达的码盘上设计缺口,并对码盘的缺口宽度进行优化,从而能够准确捕捉脉冲信号周期突变,因而可以有效减少角度累积误差,提升角度同步精度,特别适用于高转速场景下的实时角度追踪需求。同时,本发明能够消除激光雷达的抖动干扰,并能够对多圈采集数据进行时空插值融合,因而可以生成高密度点云数据,从而能够有效提升角分辨率以及点云密度。

宇树科技激光雷达测控专利公布

(企查查)

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